Approche basée sur des données pour le diagnostic de défauts circuit ouvert des onduleurs

L'objectif visé est le développement d’un algorithme basé sur des données de mesure pour le diagnostic précoce des défauts singuliers et multiples de type circuit ouvert d’un onduleur. Pour la détection des défauts, une méthode d'apprentissage non supervisée est intégrée à l’algorithme de diagnostic. Grâce à elle, des classes de données correspondant aux modes de fonctionnement du convertisseur (normal ou défaillant) sont créées et adaptées en fonction des nouveaux comportements détectés à l’aide des mesures. Ensuite, ces classes sont nommées et utilisées comme références pour diagnostiquer les défauts. Ce projet est financé par le CPER « Convertisseur d’Energie Intégré Intelligent » (CE2I).